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ダイオードの使い方の一つとして、半導体のサージ保護がある。
サージ保護においては、データーシート上の定格をはるかに超える瞬間耐電流を期待して設計する。
ダイオーードなどでは、(電流の2乗)×ばつ(時間)=一定のラインで破損する。破壊モードは主として短絡モードである。たとえば1A定格のダイオードはμs領域では1kA程度まで耐える。
サージ電圧やサージ電流の継続時間は短くかつ頻度が少ないので、実力値で設計しても十分な効果がある。
ただし、小信号用ダイオードでは耐サージ性能の技術資料はほとんどないから、自前で試験することになる。きれいなグラフを得るには定電流パルスで破壊試験をするとよい。短時間大電流であるから、大容量のコンデンサを並列にして電源とした可変パルス発生器を作る。
パルス発生器の制御トランジスタもまた半導体であるから、安全動作領域を参考にして、パワートランジスタを多数並列運転する。
アナログエンジニアは若い頃、ヒューズを含む種々の電子部品の破壊試験を行った経験がある。この経験が、不慮のサージが入る屋外機器の信頼性設計に役立った。
耐サージ設計により、原因不明の故障はかなり減少する。
なお、電源整流用ダイオードで、コンデンサの値を過大にし、トランス容量が大きいとコンデンサへの突入電流とその継続時間が長くなるので、整流ダイオードの耐サージ電流(データーシートに記載のある品種も多くある)を考慮する必要が生じる。
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