温暁青 (Xiaoqing Wen) - マイポータル

A Highly Robust and Low-Power Flip-Flop Cell With Complete Double-Node-Upset Tolerance for Aerospace Applications

Yan A., He Y., Niu X., Cui J., Ni T., Huang Z., Girard P., Wen X.

IEEE Design and Test 40(4) 34-41 2023年8月1日査読有り
LDAVPM: A Latch Design and Algorithm-Based Verification Protected Against Multiple-Node-Upsets in Harsh Radiation Environments

Yan A., Li Z., Cui J., Huang Z., Ni T., Girard P., Wen X.

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 42(6) 2069-2073 2023年6月1日査読有り
Designs of Two Quadruple-Node-Upset Self-Recoverable Latches for Highly Robust Computing in Harsh Radiation Environments

Yan A., Li Z., Cui J., Huang Z., Ni T., Girard P., Wen X.

IEEE Transactions on Aerospace and Electronic Systems 59(3) 2885-2897 2023年6月1日査読有り
Designs of BCD Adder Based on Excess-3 Code in Quantum-Dot Cellular Automata

Yan A., Liu R., Cui J., Ni T., Girard P., Wen X., Zhang J.

IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs 70(6) 2256-2260 2023年6月1日査読有り
Energy-Efficient Multiple Network-on-Chip Architecture With Bandwidth Expansion

Zhou W., Ouyang Y., Xu D., Huang Z., Liang H., Wen X.

IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 31(4) 442-455 2023年4月1日査読有り
High Performance and DNU-Recovery Spintronic Retention Latch for Hybrid MTJ/CMOS Technology

Yan A., Zhou Z., Ding L., Cui J., Huang Z., Wen X., Girard P.

Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE 2023-April 2023年1月査読有り
Designs of Level-Sensitive T Flip-Flops and Polar Encoders Based on Two XOR/XNOR Gates

Yan A., Liu R., Huang Z., Girard P., Wen X.

Electronics (Switzerland) 11(10) 2022年5月査読有り
MRCO: A Multi-ring Convergence Oscillator-based High-Efficiency True Random Number Generator

Ni T., Peng Q., Bian J., Yao L., Huang Z., Yan A., Wen X.

Proceedings of the 2022 Asian Hardware Oriented Security and Trust Symposium, AsianHOST 2022 2022年1月査読有り
A Radiation-Hardened Non-Volatile Magnetic Latch with High Reliability and Persistent Storage

Yan A., Dingl L., Zhou Z., Huang Z., Cui J., Girard P., Wen X.

Proceedings of the Asian Test Symposium 2022-November 1-6 2022年1月査読有り
Evaluation and Test of Production Defects in Hardened Latches

Ma R., Holst S., Wen X., Yan A., Xu H.

IEICE Transactions on Information and Systems E105D(5) 996-1009 2022年1月査読有り
GPU-Accelerated Timing Simulation of Systolic-Array-Based AI Accelerators

Holst S., Bumun L., Wen X.

Proceedings of the Asian Test Symposium 2021-November 127-132 2021年1月査読有り

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MISC

213

Power-Aware Testing for Low-Power VLSI Circuits

X. Wen

15th IEEE Int'l Conf. on Electron Devices and Solid-State Cirucits 585-588 2019年6月1日査読有り招待有り責任著者
The impact of production defects on the soft-error tolerance of hardened latches

Holst S., Ma R., Wen X.

Proceedings of the European Test Workshop 2018-May 1-6 2018年6月29日査読有り
Bit-Flip Errors Detection using Random Partial Don't-Care Keys for a Soft-Error-Tolerant TCAM

I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen

Proceedings of the 27th International Workshop on Logic and Synthesis 124-131 2018年6月23日査読有り
A Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design for High Performance and Low Power Application

A. Yan, K. Yang, Z. Huang, J. Zhang, X. Fang, X. Wen

IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs 66(2) 287-291 2018年6月19日査読有り
A Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design for High Performance and Low Power Application

A. Yan, K. Yang, Z. Huang, J. Zhang, X. Fang, X. Wen

IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs 66(2) 287-291 2018年6月19日査読有り
A Method to Detect Bit Flips in a Soft-Error Resilient TCAM

Infall Syafalni, Tsutomu Sasao, Xiaoqing Wen

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 37(6) 1185-1196 2018年6月1日
The Impact of Production Defects on the Soft-Error Tolerance of Hardened Latches

S. Holst, R. Ma, X. Wen

Proceedings of IEEE European Test Symposium 2018年5月28日査読有り
Design Automation for Legacy Circuits

I. Syafalni, K. Wakasugi, T. Yang, T. Sasao, X. Wen

Proceedings of the 21st Workshop on Synthesis and System Integration of Mixed Information Technologies 174-179 2018年3月26日査読有り
Scan chain grouping for mitigating ir-drop-induced test data corruption

Yucong Zhang, Stefan Holst, Xiaoqing Wen, Kohei Miyase, Seiji Kajihara, Jun Qian

Proceedings of the Asian Test Symposium 140-145 2018年1月24日
Bit-Flip Errors Detection using Random Partial Don't-Care Keys for a Soft-Error-Tolerant TCAM

I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen

Proceedings of the 27th International Workshop on Logic and Synthesis 124-131 2018年
The Impact of Production Defects on the Soft-Error Tolerance of Hardened Latches

S. Holst, R. Ma, X. Wen

Proceedings of IEEE European Test Symposium 2018年
Design Automation for Legacy Circuits

I. Syafalni, K. Wakasugi, T. Yang, T. Sasao, X. Wen

Proceedings of the 21st Workshop on Synthesis and System Integration of Mixed Information Technologies 174-179 2018年
Analysis and mitigation or IR-Drop induced scan shift-errors

Stefan Holst, Eric Schneider, Koshi Kawagoe, Michael A. Kochte, Kohei Miyase, Hans-Joachim Wunderlich, Seiji Kajihara, Xiaoqing Wen

Proceedings - International Test Conference 2017- 1-8 2017年12月29日
Locating Hot Spot with Justification Techniques in a Layout Design

K. Miyase, Y. Kawano, X. Wen, S. Kajihara

Proceedings of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2017年11月30日査読有り
Vernier ring based pre-bond through silicon vias test in 3D ICs

Tianming Ni, Mu Nie, Huaguo Liang, Jingchang Bian, Xiumin Xu, Xiangsheng Fang, Zhengfeng Huang, Xiaoqing Wen

IEICE ELECTRONICS EXPRESS 14(18) 2017年9月
Power-aware testing for low-power VLSI circuits

Xiaoqing Wen

2016 13th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, ICSICT 2016 - Proceedings 585-588 2017年7月31日
GPU-Accelerated Simulation of Small Delay Faults

Eric Schneider, Michael A. Kochte, Stefan Holst, Xiaoqing Wen, Hans-Joachim Wunderlich

IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS 36(5) 829-841 2017年5月
On Optimal Power-Aware Path Sensitization

M. Sauer, J. Jiang, S. Reimer, K. Miyase, X. Wen, B. Becker, I. Polian

Workshop of Test and Reliability for Circuits and Systems 2017年3月5日査読有り
Low-Power Scan-Based Built-In Self-Test Based on Weighted Pseudorandom Test Pattern Generation and Reseeding

Dong Xiang, Xiaoqing Wen, Laung-Terng Wang

IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS 25(3) 942-953 2017年3月
Locating Hot Spot with Justification Techniques in a Layout Design

K. Miyase, Y. Kawano, X. Wen, S. Kajihara

Proceedings of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2017年

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書籍等出版物

Prerequisites on Fault Diagnosis

Chen H.H., Wen X., Cheng W.T. (担当:共著)

Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip 2023年1月1日 (ISBN: 9783031196393, 9783031196386) 査読有り
第3章 ×ばつわかる半導体入門編(改訂版)

温暁青, 畠山一実 (担当:共著)

日経BPコンサルティング 2020年12月10日 (ISBN: 9784864431361)
第3章 ×ばつわかる半導体応用編

温暁青, 畠山一実 (担当:共著)

日経BPコンサルティング 2019年4月27日 (ISBN: 9784864431309)
第3章 ×ばつわかる半導体半導体テスト技術者検定3級問題集

温暁青, 畠山一実 (担当:共著)

日経BPコンサルティング 2014年12月11日 (ISBN: 9784864430715)
Chapter 9 "Low-Power Testing for 2D/3D Devices and Systems" in Design of 3D Integrated Circuits and Systems

Rohit Sharma, 他 (担当:共著)

CRC Press 2014年11月12日 (ISBN: 9781466589407)
Chapter 9 "Low-Power Testing for 2D/3D Devices and Systems" in Design of 3D Integrated Circuits and Systems

CRC Press 2014年 (ISBN: 9781466589407)
第3章 ×ばつわかる半導体入門編

温暁青, 畠山一実 (担当:共著)

日経BPコンサルティング 2013年5月7日 (ISBN: 9784864430395)
Chapter 20 "Low-Power Testing for Low-Power LSI Circuits", Advanced Circuits for Emerging Technologies

X. Wen, Y. Zorian (担当:共著)

John Wiley & Sons 2012年6月1日 (ISBN: 9780470900055)
Chapter 20 "Low-Power Testing for Low-Power LSI Circuits", Advanced Circuits for Emerging Technologies

John Wiley & Sons 2012年 (ISBN: 9780470900055)
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

P. Girard, N. Nicolici, X. Wen (担当:共編者(共編著者))

Springer 2009年11月 (ISBN: 9781441909275)
Chapter 3: "Low-Power Test Generation" in Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

X. Wen, S. Wang (担当:共著)

Springer 2009年11月 (ISBN: 9781441909275)
Chapter 7: "Test Synthesis" in Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test

L.-T. Wang, X. Wen, S. Wu (担当:共著)

Morgan Kaufmann Publishers 2009年3月12日 (ISBN: 9780123743640)
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Springer 2009年 (ISBN: 9781441909275)
Chapter 3: "Low-Power Test Generation" in Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Springer 2009年 (ISBN: 9781441909275)
Chapter 7: "Test Synthesis" in Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test

Morgan Kaufmann Publishers 2009年 (ISBN: 9780123743640)
Chapter 7: "Low-Power Testing" in Advanced SOC Test Architectures Towards Nanometer Designs

P. Girard, X. Wen, N. A. Touba (担当:共著)

Morgan Kaufmann Publishers 2007年12月4日 (ISBN: 9780123739735)
Chapter 7: "Low-Power Testing" in Advanced SOC Test Architectures Towards Nanometer Designs

Morgan Kaufmann Publishers 2007年 (ISBN: 9780123739735)
半導体デバイスの評価・テスト・解析技術

温暁青, 筒井信明, 益子洋治, 木村祐造, 小坂彰 (担当:共著)

九州地域産業活性化センター 2006年10月1日
Chapter 2: "Design for Testability" in VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

L.-T. Wang, X. Wen, K. S. Abdel-Hafez (担当:共著)

Morgan Kaufmann Publishers 2006年7月21日 (ISBN: 9780123705976)
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

L.-T. Wang, C.-W.Wu, X. Wen (担当:共編者(共編著者))

Morgan Kaufmann Publishers 2006年7月21日 (ISBN: 9780123705976)

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主要な講演・口頭発表等

117

Power-Aware Testing for Low-Power VLSI Circuits

The 14th IEEE International Symposium on Embedded Multicore/Many-core Systems-on-Chip 2021年12月21日
LSI Testing: A Core Technology to a Successful Semiconductor Industry

The 8th IEEE & 9th International Conference on Science, Education, and Viable Engineering 2021年10月29日
LSI Testing: A Core Technology to a Successful Semiconductor Industry

The 2021 IEEE International Conference on Electron Devices and Applications 2021年8月15日
LSI Testing: A Core Technology to a Successful Semiconductor Industry

The 2nd IEEE International Conference on Control, Measurement and Instrumentation 2021年1月9日
LSI Testing: A Core Technology to a Successful Semiconductor Industry

The 8th IEEE International Symposium on Next-Generation Electronics 2019年10月9日
LSI Testing: A Core Technology to a Successful Semiconductor Industry

International Conference on Advanced Mechnical and Electronical Engineering 2018年12月27日
Power-Aware VLSI Testing -Challenges and Strategies-

The Workshop of Artificial Intelligence and Its Applications on Next Generation of Internet of Things 2018年8月20日
Power-Aware Testing for Low-Power VLSI Circuits

The 2nd International Conference on Circuits, Devices and Systems 2018年8月5日
Power-Aware Testing for Low-Power VLSI Circuits

The 5th Int'l Symp. on Applied Engineering and Sciences 2017年11月14日
Power-Aware LSI Testing: Challenges and Strategies

China Test Conference 2016年7月23日
Power-Aware Testing: The Next Stage

Taiwan Tech and Kyutech Advanced VLSI Testing Workshop 2013年9月24日
Power-Aware Testing: The Next Stage

ETS 2012 2012年5月29日 ETS
Power-Aware Test for Low-Power Devices

WRTLT 2010 2010年12月5日 WRTLT
Reliability: The Unchanging Value of the Ever-Changing Semiconductor World

PRDC 2009 2009年11月16日 IEEE PRDC
Challenges and Chances in Deep-Submicron LSI Testing

China Test Conference 2008 2008年5月21日 China Test Conference組織委員会

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担当経験のある科目(授業)

2025年10月 - 2025年12月

高信頼LSI設計 (九州工業大学)
2025年6月 - 2025年9月

ディジタルシステム設計 (九州工業大学)
2025年4月 - 2025年9月

情報通信工学実験III (九州工業大学)
2025年4月 - 2025年6月

論理設計 (九州工業大学)
2025年4月 - 2025年6月

論理回路 (九州工業大学)
2025年4月 - 2025年6月

離散数学I (九州工業大学)
2024年4月 - 2025年3月

長期インターンシップ (九州工業大学)
2024年10月 - 2024年12月

高信頼LSI設計 (九州工業大学)
2024年6月 - 2024年9月

ディジタルシステム設計 (九州工業大学)
2024年4月 - 2024年9月

情報通信工学実験III (九州工業大学)
2024年4月 - 2024年6月

離散数学I (九州工業大学)
2023年4月 - 2024年3月

プロジェクト研究 (九州工業大学)
2023年4月 - 2024年3月

プロジェクト研究 (九州工業大学)
2023年4月 - 2024年3月

海外インターンシップ実習II (九州工業大学)
2023年4月 - 2024年3月

インターンシップ (九州工業大学)
2023年10月 - 2023年12月

高信頼LSI設計 (九州工業大学)
2023年6月 - 2023年9月

ディジタルシステム設計 (九州工業大学)
2023年4月 - 2023年6月

ディペンダブルシステムCE (九州工業大学)
2023年4月 - 2023年6月

ディペンダブルシステムSD (九州工業大学)
2023年4月 - 2023年6月

離散数学I (九州工業大学)

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所属学協会

120

2017年12月 - 現在

日本学術振興会科学研究費委員会
2017年4月 - 現在

国立研究開発法人科学技術振興機構「地域産学バリュープログラム」
2017年1月 - 現在

IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia)
2017年1月 - 現在

International Conference on Intelligent Green Building and Smart Grid
2017年1月 - 現在

中国自然科学基金委員会
2016年1月 - 現在

International Doctoral Symposium on Applied Computation and Security Systems (ACSS)
2015年10月 - 現在

日本マイクロ・ナノバブル学会
2015年1月 - 現在

IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC)
2015年1月 - 現在

IEEE International Symposium on Nanoelectronic and Information Systems (iNIS)
2015年1月 - 現在

International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT)
2014年4月 - 現在

国立研究開発法人科学技術振興機構「研究成果最適展開支援プログラム」
2014年4月 - 現在

国立研究開発法人科学技術振興機構「研究成果最適展開支援プログラム」
2014年1月 - 現在

IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systms (APCCAS)
2014年1月 - 現在

International Conference on VLSI Design (VLSID)
2013年1月 - 現在

IEEE International Reliability Innovations Conference (IRIC)
2013年1月 - 現在

International Conference on Advanced Technologies for Communications (ATC)
2013年1月 - 現在

IEEE Latin-American Test Symposium (LATS)
2012年1月 - 現在

IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI)
2011年1月 - 現在

Technical Activity Committee on Power-Aware Testing, TTTC, IEEE Computer Society
2010年4月 - 現在

国立研究開発法人科学技術振興機構「A-STEP探索タイプ」

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Works(作品等)

高品質な低電力LSI創出に貢献するシフト電力安全型スキャンテスト方式に関する研究

2017年 - 2021年
hift-Power-Safe Scan Test Methodology for High-Quality Low-Power Circuits

2017年 - 2021年
次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究

2015年 - 2018年
High-Quality False-Test-Avoidance Test for Next-Generation Low-Power LSI Circuits

2015年 - 2018年
体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究

2013年 - 2018年
Ultra-Low-Power Built-In Self-Test for LSIs in Implantable Medical Devices

2013年 - 2018年
チュートリアル @ ISCAS 2018 (Florence, Italy)

2018年
チュートリアル @ LATS 2018 (Sao Paulo, Brazil)

2018年
Power-Aware Testing in the Era of IoT

2018年
テストクロック危険性の検出と除去に基づく高品質LSIテスト方式に関する研究

2015年 - 2017年
Research on High-Quality LSI Test Methodology based on Checking and Removal of Test Clock Risks

2015年 - 2017年
チュートリアル @ ATS 2017 (Taipei, Taiwan)

2017年
Power-Aware Testing in the Era of IoT

2017年
高品質・低コストLSIの創出に貢献する論理スイッチング均衡型テストに関する研究

2012年 - 2015年
Research on Logic Switching Activity Balanced Test for High-Quality Low-Cost LSIs

2012年 - 2015年
Nano-CMOS LSI 回路の実現に貢献する先端テスト技術の研究開発

2011年 - 2015年
Advanced Test Technology Development for Realizing Nano-CMOS LSI Circuits

2011年 - 2015年
フィールド高信頼化のための回路・システム機構

2008年 - 2014年
次世代低消費電力LSI回路のための電力調整型テスト方式に関する研究

2010年 - 2013年
Power-Adjustment-Based Testing for Next-Generation Low-Power LSI Circuits

2010年 - 2013年

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共同研究・競争的資金等の研究課題

高信頼LSI創出のための欠陥考慮型耐ソフトエラー技術に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2021年4月 - 2025年3月

温暁青, 宮瀬紘平, Holst Stefan, 梶原誠司
高信頼LSI創出のための欠陥考慮型耐ソフトエラー技術に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2021年4月 - 2025年3月

温暁青, Holst Stefan, 宮瀬紘平, 梶原誠司
高品質な低電力LSI創出に貢献するシフト電力安全型スキャンテスト方式に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2017年4月 - 2021年3月

温暁青, 梶原誠司, 宮瀬紘平, Holst Stefan
次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業挑戦的萌芽研究 2015年4月 - 2018年3月

温暁青, 梶原誠司, 宮瀬紘平, Holst Stefan, 浜田周治, 羽立幸司
体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2013年4月 - 2018年3月

温暁青, 宮瀬紘平, Holst Stefan, 梶原誠司, 樹下行三, 相京隆, 高木範明
テストクロック危険性の検出と除去に基づく高品質LSIテスト方式に関する研究

独立行政法人日本学術振興会二国間交流事業共同研究・セミナー 2015年4月 - 2017年3月
高品質・低コストLSIの創出に貢献する論理スイッチング均衡型テストに関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業挑戦的萌芽研究 2012年4月 - 2015年3月

温暁青, 宮瀬紘平, 梶原誠司
フィールド高信頼化のための回路・システム機構

独立行政法人科学技術振興機構 CREST 2008年10月 - 2014年3月
Nano-CMOS LSI 回路の実現に貢献する先端テスト技術の研究開発

科学技術振興機構国際的な科学技術共同研究などの推進/国際科学技術協力基盤整備事業/海外の科学技術情報の収集/台湾 2011年 - 2014年

温暁青
LSI高信頼性設計

共同研究 2014年
LSI High Reliability Design

Cooperative Research 2014年
半導体集積回路の高歩留り化プラットフォームの研究開発

財団法人福岡県産業・科学技術振興財団 2007年6月 - 2012年3月
次世代低消費電力LSI回路のための電力調整型テスト方式に関るす研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2010年 - 2012年

温暁青, 梶原誠司, 宮瀬紘平
VLSIの高品質フィールドテストに関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2009年 - 2012年

梶原誠司, 温暁青, 宮瀬紘平
最先端半導体(cell/B.E.)を活用した超高速演算処理に関する実証試験

財団法人福岡県産業・科学技術振興財団 2009年9月 - 2010年3月
高精度電力・ノイズ考慮テスト生成技術の研究

株式会社半導体理工学研究センター 2008年4月 - 2009年3月
次世代LSIのための信号劣化回避型テスト方式に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2007年 - 2009年

温暁青, 梶原誠司
半導体集積回路の高信頼化に貢献する先端テスト技術の研究開発

経済産業省地域新生コンソーシアム研究開発事業 2007年9月 - 2008年3月
テスト時電力・ノイズ考慮テストの研究

株式会社半導体理工学研究センター 2007年6月 - 2008年3月
自己検査・自己診断によるLSI高信頼化方式に関する研究

独立行政法人日本学術振興会二国間交流事業共同研究・セミナー 2006年4月 - 2008年3月

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産業財産権

348

9,696,377 Method and apparatus for broadcasting scan patterns in a scan-based integrated circuit

L.-T. Wang, H.-P. Wang, X. Wen, M.-C. Lin, S.-H. Lin, T.-C. Yeh, S.-W. Tsai, K. S. Abdel-Hafez
9,678,156 Multiple-capture DFT method for detecting or locating crossing clock-domain faults during self-test or scan-test

L.-T. Wang, H.-P. Wang, X. Wen
20160131707 MULTIPLE-CAPTURE DFT METHOD FOR DETECTING OR LOCATING CROSSING CLOCK-DOMAIN FAULTS DURING SELF-TEST OR SCAN-TEST

L.-T. Wang, P.-C. Hsu, X. Wen
9,316,688 Multiple-capture DFT system for detecting or locating crossing clock-domain faults during scan-test

L.-T. Wang, H.-P. Wang, X. Wen
9,274,168 Multiple-capture DFT system for detecting or locating crossing clock-domain faults during scan-test

L.-T. Wang, H.-P. Wang, X. Wen
20150338465 MULTIPLE-CAPTURE DFT SYSTEM FOR DETECTING OR LOCATING CROSSING CLOCK-DOMAIN FAULTS DURING SCAN-TEST

L.-T. Wang, P.-C. Hsu, X. Wen
20150316616 MULTIPLE-CAPTURE DFT SYSTEM FOR DETECTING OR LOCATING CROSSING CLOCK-DOMAIN FAULTS DURING SCAN-TEST

L.-T. Wang, P.-C. Hsu, X. Wen
9,091,730 Multiple-capture DFT system for detecting or locating crossing clock-domain faults during scan-test

L.-T. Wang, H.-P. Wang, X. Wen
8,775,985 Computer-aided design system to automate scan synthesis at register-transfer level

L.-T. Wang, X. Wen
ZL 2009 8 0134361.2 生成装置以及生成方法

宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司, 大和勇太
特許5481754 生成装置、判別方法、生成方法及びプログラム

呉孟帆, 黄俊郎, 宮瀬紘平, 温暁青
8,589,751 Don't-care-bit identification method and don't-care-bit identification program

K. Miyase, X. Wen, S, Kajihara
20130305200 COMPUTER-AIDED DESIGN SYSTEM TO AUTOMATE SCAN SYNTHESIS AT REGISTER-TRANSFER LEVEL

L.-T. WANG, .X. WEN
8,543,950 Computer-aided design system to automate scan synthesis at register-transfer level

L.-T. Wang, A. Kifli, F-.S. Hsu, S.-C. Kao, X. Wen, S.-H. Lin, H.-P. Wang
特許5333956 診断装置、診断方法、その診断方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体

温暁青, 梶原誠司, 宮瀬紘平, 皆本義弘, 伊達博
I369503 診断装置、診断方法、可執行該診断方法於電脳之程式及記録該程式之記録媒体

温暁青, 梶原誠司, 宮瀬紘平, 皆本義弘, 伊達博
I403746 測試図案最佳化的方法

呉孟帆, 黄俊郎, 温暁青, 宮瀬紘平
特許5311351 生成装置、生成方法及びプログラム

宮瀬紘平, 温暁青, 梶原誠司, 大和勇太
I368041 産生装置、産生方法、可執行産生方法於電脳之程式及記録該程式之記録媒体

温暁青, 梶原誠司, 宮瀬紘平, 皆本義弘, 伊達博
I368042 変換装置、変換方法、可執行変換方法於電脳之程式及記録該程式之記録媒体

温暁青, 梶原誠司, 宮瀬紘平, 皆本義弘, 伊達博

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メディア報道

高品質半導体を開発へ

西日本新聞 2013年5月11日
九工大半導体検査に新技術廃棄率が大幅改善へスマホ製造費削減価格低下も

西日本新聞 2012年1月8日
九州工業大保有特許活用でSPC

日経産業新聞 2011年12月16日
テスト時のローパワー化に高い関心

Tech-On 2008年3月17日

その他

チュートリアル @ IEEE International Conference on Computer Design (Embedded Tutorial) (Virtual Conference)

2021年10月 - 2021年10月

Tutorial "Power-Aware Testing in the Era of IoT" by P. Girard and X. Wen
チュートリアル @ IEEE International Test Conference (Half-Day Tutorial (Washington D.C., USA)

2021年10月 - 2021年10月

Tutorial "Power-Aware Testing in the Era of IoT" by P. Girard and X. Wen
チュートリアル @ IEEE International Test Conference - India (Half-Day Tutorial (Bengaluru, India)

2020年7月 - 2020年7月

Tutorial "Power-Aware Testing in the Era of IoT" by P. Girard and X. Wen
チュートリアル @ IEEE International Test Conference (Half-Day Tutorial (Washington D.C., USA)

2019年11月 - 2019年11月

Tutorial "Power-Aware Testing in the Era of IoT" by P. Girard and X. Wen
チュートリアル @ Korea Test Copnference (Seoul, Korea)

2019年6月 - 2019年6月

Tutorial "Power-Aware LSI Testing ~ Challenges and Strategies ~ " by X. Wen
チュートリアル @ ISCAS 2018 (Florence, Italy)

2018年5月 - 2018年5月

Tutorial "Power-Aware Testing in the Era of IoT" by P. Girard and X. Wen
チュートリアル @ LATS 2018 (Sao Paulo, Brazil)

2018年3月 - 2018年3月

Tutorial "Power-Aware Testing in the Era of IoT" by X.Wen and P. Girard
チュートリアル @ ATS 2017 (Taipei, Taiwan)

2017年11月 - 2017年11月

Tutorial "Power-Aware Testing in the Era of IoT" by X. Wen and P. Girard
チュートリアル @ ATS 2012 (Niigata, Japan)

2012年11月 - 2012年11月

Tutorial "Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices" by P. Girard, N. Nicolici, and X. Wen
チュートリアル @ ITC 2012 (Anaheim, USA)

2012年11月 - 2012年11月

Tutorial "Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices" by P. Girard, N. Nicolici, and X. Wen
チュートリアル @ ISQED 2012 (Santa Clara, USA)

2012年3月 - 2012年3月

Tutorial "Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices" by P. Girard, N. Nicolici, and X. Wen
チュートリアル @ ITC 2011 (Anaheim, USA)

2011年9月 - 2011年9月

Tutorial "Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices" by P. Girard, N. Nicolici, and X. Wen
チュートリアル @ DATE 2011 (Grenoble, France)

2011年3月 - 2011年3月

Tutorial "Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices" by P. Girard, N. Nicolici, and X. Wen
チュートリアル @ MWSCAS 2010 (Seattle, USA)

2010年8月 - 2010年8月

Tutorial "Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices" by P. Girard, N. Nicolici, and X. Wen
チュートリアル @ NEWCAS 2010 (Montreal, Canada)

2010年6月 - 2010年6月

Tutorial "Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices" by P. Girard, N. Nicolici, and X. Wen
チュートリアル @ ATS 2009 (Taichung, Taiwan)

2009年11月 - 2009年11月

Tutorial "Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices" by P. Girard, N. Nicolici, and X. Wen
チュートリアル @ DATE 2008 (Munich, Germany)

2008年3月 - 2008年3月

Tutorial "Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices" by P. Girard, N. Nicolici, and X. Wen
チュートリアル @ リアライズ理工センター (日本, 東京)

2007年6月 - 2007年6月

"歩留まり向上に貢献するためのテスト技術の最新動向"
チュートリアル @ ETS 2007 (Freiburg, Germany)

2007年5月 - 2007年5月

Tutorial "Power Issues in Test" by N. Nicolici and X.Wen
チュートリアル @ リアライズ理工センター (日本, 東京)

2006年1月 - 2006年1月

"歩留まり向上に貢献するためのテスト技術の最新動向"

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