2018年8月5日
Power-Aware Testing for Low-Power VLSI Circuits
The 2nd International Conference on Circuits, Devices and Systems
- 記述言語
- 英語
- 会議種別
- 口頭発表(基調)
- 開催地
- Nanjing, China
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温 暁青
オン ギョウセイ (Xiaoqing Wen)
更新日: 08/15