温 暁青

Works(作品等)

53

• 高品質な低電力LSI創出に貢献するシフト電力安全型スキャンテスト方式に関する研究

  2017年 - 2021年
• hift-Power-Safe Scan Test Methodology for High-Quality Low-Power Circuits

  2017年 - 2021年
• 次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究

  2015年 - 2018年
• High-Quality False-Test-Avoidance Test for Next-Generation Low-Power LSI Circuits

  2015年 - 2018年
• 体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究

  2013年 - 2018年
• Ultra-Low-Power Built-In Self-Test for LSIs in Implantable Medical Devices

  2013年 - 2018年
• チュートリアル @ ISCAS 2018 (Florence, Italy)

  2018年
• チュートリアル @ LATS 2018 (Sao Paulo, Brazil)

  2018年
• Power-Aware Testing in the Era of IoT

  2018年
• テストクロック危険性の検出と除去に基づく高品質LSIテスト方式に関する研究

  2015年 - 2017年
• Research on High-Quality LSI Test Methodology based on Checking and Removal of Test Clock Risks

  2015年 - 2017年
• チュートリアル @ ATS 2017 (Taipei, Taiwan)

  2017年
• Power-Aware Testing in the Era of IoT

  2017年
• 高品質・低コストLSIの創出に貢献する論理スイッチング均衡型テストに関する研究

  2012年 - 2015年
• Research on Logic Switching Activity Balanced Test for High-Quality Low-Cost LSIs

  2012年 - 2015年
• Nano-CMOS LSI 回路の実現に貢献する先端テスト技術の研究開発

  2011年 - 2015年
• Advanced Test Technology Development for Realizing Nano-CMOS LSI Circuits

  2011年 - 2015年
• フィールド高信頼化のための回路・システム機構

  2008年 - 2014年
• 次世代低消費電力LSI回路のための電力調整型テスト方式に関する研究

  2010年 - 2013年
• Power-Adjustment-Based Testing for Next-Generation Low-Power LSI Circuits

  2010年 - 2013年

マイポータルへ