MISC

査読有り 国際共著 国際誌
2017年3月5日

On Optimal Power-Aware Path Sensitization

Workshop of Test and Reliability for Circuits and Systems
  • M. Sauer
    • ,
  • J. Jiang
    • ,
  • S. Reimer
    • ,
  • K. Miyase
    • ,
  • X. Wen
    • ,
  • B. Becker
    • ,
  • I. Polian
記述言語
英語
掲載種別
エクスポート
BibTeX RIS