Holst Stefan

基本情報

所属

九州工業大学 大学院情報工学研究院 電子情報通信工学研究系 准教授

学位

博士(理学)(2012年9月 シュトゥトッガルト大学)

連絡先

holstcsn.kyutech.ac.jp

通称等の別名

Dr. rer. nat.

研究者番号

40710322

J-GLOBAL ID

201901019638633572

researchmap会員ID

B000348851

外部リンク

http://www.s-holst.de/lab

研究キーワード

• 回路シミュレーション
• 故障診断
• VLSIテスト

研究分野

• 情報通信 / 計算機システム /

経歴

• 2026年4月 - 現在

  九州工業大学, 大学院情報工学研究院 電子情報通信工学研究系, 准教授
• 2021年4月 - 2026年3月

  九州工業大学, 大学院情報工学研究院 情報・通信工学研究系, 准教授
• 2019年4月 - 2021年3月

  九州工業大学, 大学院情報工学研究院 情報・通信工学研究系, 助教
• 2013年4月 - 2019年3月

  九州工業大学, 大学院情報工学研究院 情報創成工学研究系, 助教

学歴

• 2006年3月 - 2012年9月

  シュトゥットガルト大学, 計算機アーキテクチャ研究所, 情報工学
• 2000年10月 - 2005年11月

  シュトゥットガルト大学, 計算機科学・電気工学・情報技術分野, 情報工学

受賞

• 2022年11月

  Best Paper of Asian Test Symposium 2021, Program Committee of ATS 2021

  S. Holst, B. Lim, X. Wen
• 2017年10月

  Distinquished Paper of International Test Conference 2017, Program Committee of ITC 2017

  Stefan Holst, Eric Schneider, Koshi Kawagoe, Michael A. Kochte, Kohei Miyase, Hans-Joachim Wunderlich, Seiji Kajihara, Xiaoqing Wen
• 2016年11月

  Best Paper of Asian Test Symposium 2015, Program Committee of ATS 2015

  K. Asada, X. Wen, S. Holst, K. Miyase, S. Kajihara, M. A. Kochte, E. Schneider, H.-J. Wunderlich, H. Furukawa
• 2008年5月

  Best Paper of European Test Symposium 2007, Program Committee of ETS 2007

  Stefan Holst, Hans-Joachim Wunderlich

論文

• ThorSim: Throughput-Oriented Timing Simulation of FinFET Digital Circuits

  Reimer J.D., Holst S., Sadeghi-Kohan S., Wunderlich H.J., Hellebrand S.

  2025 International Symposium of Electronics Design Automation Iseda 2025 502-507 2025年1月 査読有り
• Motion Classification by Utilizing Machine Learning for Acceleration Data

  Ishizu K., Honda T., Miyase K., Holst S., Ishikawa S., Sengupta R., Polian I.

  Digest of Technical Papers IEEE International Conference on Consumer Electronics 2025年1月 査読有り
• Highly Defect Detectable and SEU-Resilient Robust Scan-Test-Aware Latch Design

  Ma R., Holst S., Xu H., Wen X., Wang S., Li J., Yan A.

  IEEE Transactions on Very Large Scale Integration VLSI Systems 33(2) 449-461 2025年1月 査読有り
• GPU-Accelerated Estimation and Targeted Reduction of Peak IR-Drop during Scan Chain Shifting∗

  Shi S., Holst S., Wen X.

  IEICE Transactions on Information and Systems E106.D(10) 1694-1704 2023年10月 査読有り
• Mitigating Test-Induced Yield-Loss by IR-Drop-Aware X-Filling

  Shi S., Holst S., Wen X.

  Proceedings 2023 16th IEEE International Symposium on Embedded Multicore Many Core Systems on Chip Mcsoc 2023 501-507 2023年1月 査読有り
• Guardband Optimization for the Preconditioned Conjugate Gradient Algorithm

  Lylina N., Holst S., Jafarzadeh H., Kourfali A., Wunderlich H.J.

  Proceedings 53rd Annual IEEE IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks Workshops Volume Dsn W 2023 195-198 2023年1月 査読有り
• Exploiting the Error Resilience of the Preconditioned Conjugate Gradient Method for Energy and Delay Optimization

  Lylina N., Holst S., Jafarzadeh H., Kourfali A., Wunderlich H.J.

  Proceedings 2023 IEEE 29th International Symposium on on Line Testing and Robust System Design Iolts 2023 2023年1月 査読有り
• Stock price movement prediction based on Stocktwits investor sentiment using FinBERT and ensemble SVM

  Liu J.X., Leu J.S., Holst S.

  PeerJ Computer Science 9 2023年1月 査読有り最終著者
• BiSTAHL: A Built-In Self-Testable Soft-Error-Hardened Scan-Cell

  Holst S., Ma R., Wen X., Yan A., Xu H.

  Proceedings of the European Test Workshop 2023-May 2023年1月 査読有り筆頭著者責任著者
• Power and Energy Safe Real-Time Multi-Core Task Scheduling

  Baita K., Chakrabarti A., Chatterjee B., Holst S., Wen X.

  Proceedings - 2022 35th International Conference on VLSI Design, VLSID 2022 - held concurrently with 2022 21st International Conference on Embedded Systems, ES 2022 16-21 2022年1月 査読有り
• On the Impact of Hardware Timing Errors on Stochastic Computing based Neural Networks

  Neugebauer F., Holst S., Polian I.

  Proceedings of the European Test Workshop 2022-May 2022年1月 査読有り
• Evaluation and Test of Production Defects in Hardened Latches

  Ma R., Holst S., Wen X., Yan A., Xu H.

  IEICE Transactions on Information and Systems E105D(5) 996-1009 2022年1月 査読有り
• GPU-Accelerated Timing Simulation of Systolic-Array-Based AI Accelerators

  Holst S., Bumun L., Wen X.

  Proceedings of the Asian Test Symposium 2021-November 127-132 2021年1月 査読有り筆頭著者
• On the efficacy of scan chain grouping for mitigating IR-drop-induced test data corruption

  Zhang Y., Holst S., Wen X., Miyase K., Kajihara S., Qian J.

  IEICE Transactions on Information and Systems E104D(6) 816-827 2021年1月 査読有り
• Logic Fault Diagnosis of Hidden Delay Defects

  Holst S., Kampmann M., Sprenger A., Reimer J.D., Hellebrand S., Wunderlich H.J., Wen X.

  Proceedings - International Test Conference 2020-November 2020年11月1日 査読有り筆頭著者
• Targeted partial-shift for mitigating shift switching activity hot-spots during scan test

  Holst S., Shi S., Wen X.

  Proceedings of IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing, PRDC 2019-December 124-129 2019年12月 査読有り筆頭著者
• Variation-aware small delay fault diagnosis on compressed test responses

  Holst S., Schneider E., Kochte M.A., Wen X., Wunderlich H.J.

  Proceedings - International Test Conference 2019-November 2019年11月 査読有り筆頭著者
• A fault-tolerant MPSoC for CubeSats

  Fuchs C.M., Chou P., Wen X., Murillo N.M., Furano G., Holst S., Tavoularis A., Lu S.K., Plaat A., Marinis K.

  2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2019 2019年10月 査読有り
• STAHL: A novel scan-test-aware hardened latch design

  Ma R, Holst S, Wen X, Yan A, Xu H

  Proceedings of the European Test Symposium 2019-May 2019年5月 査読有り
• Clock-Skew-Aware Scan Chain Grouping for Mitigating Shift Timing Failures in Low-Power Scan Testing

  Zhang Y., Wen X., Holst S., Miyase K., Kajihara S., Wunderlich H., Qian J.

  Proceedings of the Asian Test Symposium 2018-October 149-154 2018年12月6日 査読有り

講演・口頭発表等

• Stochastic Computing based Neural Networks on Unreliable Hardware

  Stefan Holst

  FTC 2021年7月16日
• Diagnosing Hidden Delay Defects from Faster-Than-At-Speed Test Responses

  Stefan Holst

  South European Test Seminar (SETS) 2020 2020年3月3日
• Diagnosing Hidden Delay Defects from Faster-Than-At-Speed Test Responses

  Stefan Holst

  FTC 2020年1月23日
• Accelerated Timing Simulation and Its Application

  Stefan Holst

  Dagstuhl Workshop "Intelligent Methods for Test and Reliability" 2019年9月11日 招待有り
• Logic Fault Diagnosis of Hidden Delay Defects

  Stefan Holst

  FTC 2019年7月18日
• Small Delay Fault Diagnosis with Compacted Responses

  Stefan Holst

  Design Automation Conference 2019 2019年6月2日
• Small Delay Fault Diagnosis with Compacted Responses

  Stefan Holst

  South European Test Seminar (SETS) 2019 2019年3月11日
• Small Delay Fault Diagnosis on Compacted Responses

  Stefan Holst

  FTC 2019年1月24日
• Interactive Logic Diagnosis of Unpredicted Defects in Logic Circuits

  Stefan Holst

  九州工業大学 重点プロジェクトセンター合同ワークショップ 2018年11月6日 招待有り
• Interactive Logic Diagnosis of Unpredicted Defects in Logic Circuits

  Stefan Holst

  DAシンポジウム2018 2018年8月29日
• Logic Diagnosis - How to Find Unknown Defects

  Stefan Holst

  Joint NTUST/Kyutech Seminar 2018年8月21日 招待有り
• Interactive Logic Diagnosis of Unpredicted Defects in Logic Circuits

  Stefan Holst

  FTC 2018年7月19日
• Analysis and Mitigation of IR-Drop Induced Scan Shift-Errors

  Stefan Holst

  South European Test Seminar (SETS) 2017 2017年3月20日
• The AR/VR Revolution and Its Implications for EDA Tools

  Stefan Holst

  FTC 2017年1月19日
• Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation

  Stefan Holst

  South European Test Seminar (SETS) 2016 2016年3月7日
• On the Stability of Systems in Changing Environments

  Stefan Holst

  South European Test Seminar (SETS) 2015 2015年3月16日
• Big Data and Small Transistors High-Performance VLSI Simulation

  Stefan Holst

  Joint NTUST/Kyutech Seminar 2015年3月5日 招待有り
• Data-Parallel Switch-Level Simulation for Fast and Accurate Timing Validation of CMOS Circuits

  Stefan Holst

  FTC 2014年1月23日

担当経験のある科目(授業)

• 2022年10月 - 2023年3月

  情報通信工学実験II (九州工業大学)
• 2022年4月 - 2022年8月

  情報通信工学実験III (九州工業大学)
• 2021年4月 - 2021年8月

  情報通信工学実験III (九州工業大学)
• 情報通信工学実験III(1Q) (九州工業大学)

所属学協会

• IEEE

共同研究・競争的資金等の研究課題

• 高信頼LSI創出のための欠陥考慮型耐ソフトエラー技術に関する研究

  日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(B) 2021年4月 - 2025年3月

  温 暁青, 宮瀬 紘平, Holst Stefan, 梶原 誠司
• 高信頼LSI創出のための欠陥考慮型耐ソフトエラー技術に関する研究

  日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(B) 2021年4月 - 2025年3月

  温 暁青, Stefan Holst, 宮瀬 紘平, 梶原 誠司
• 耐放射線記憶素子の設計とテストに関する研究

  科学研究費助成事業 二国間交流事業 共同研究(NSFC) 2021年4月 - 2023年12月

  Stefan Holst
• 高品質な低電力LSI創出に貢献するシフト電力安全型スキャンテスト方式に関する研究

  日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(B) 2017年4月 - 2021年3月

  温 暁青, 梶原 誠司, 宮瀬 紘平, Holst Stefan
• 次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究

  日本学術振興会 科学研究費助成事業 挑戦的萌芽研究 2015年4月 - 2018年3月

  温 暁青, 梶原 誠司, 宮瀬 紘平, Holst Stefan, 浜田 周治, 羽立 幸司
• 体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究

  日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(B) 2013年4月 - 2018年3月

  温 暁青, 宮瀬 紘平, Holst Stefan, 梶原 誠司, 樹下 行三, 相京 隆, 高木 範明

社会貢献活動

• Inside the Mind of a Researcher - A Practical Guide to the Nobel Prize

  講師

  Ehime University, Matsuyama 2019年8月2日
• Inside the Mind of a Researcher - A Practical Guide to the Nobel Prize

  講師

  Ehime University, Matsuyama 2018年8月3日