| βγセル | 3基 |
| αγセル | 2基 |
| 鉛セル | 1基 |
| グローブボックス | 6基 |
[画像:廃棄物安全試験施設(WASTEF)]
建家外観
[画像:操作室]
操作室
| No.1セル(βγ) | 試料保管、燃料被覆管破壊靭性試験、引張・圧縮試験 |
| No.2セル(βγ) | 材料試験(SSRT・UCL試験)、オートクレーブ試験 |
| No.3セル(βγ) | 試験試料作製、溶解試験 伝熱面腐食試験、被覆管SSRT |
| No.4セル(βγ) | 浸出試験、寸法測定、伝熱面腐食試験 |
| No.5セル(βγ) | 小規模溶融固化体作製、TRU化合物調製試験 |
| 鉛セル(αγ) | X線回折試験 |
| グローブボックス | 化学処理、分析試験、組成分析、浸出試 |
| ボックス | 熱拡散率測定、比熱容量測定 |
| 実験室及びフード | 放射能測定、元素分析、透過型電子顕微鏡観察、集束イオンビーム加工装置、酸化膜表面電位測定試験 |
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インストロン型:島津製作所(株)製 AG-20kNIS型 |
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| ロードセル: |
20kN |
| クロスヘッド速度: |
0.0005〜1,000mm/min |
| 恒温槽: | RT〜450°C |
本装置は、軽水炉実機環境を模擬した高温高圧水中環境下での材料の低ひずみ速度引張試験(SSRT)及び一定の負荷を試験片に掛け続ける単軸定荷重試験が実施可能。また、観察窓を設け、き裂の発生・進展の状況をCCDカメラにより観察・記録可能。
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軽水炉環境助長割れ現象解析装置(東伸工業(株)製) |
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| 最大負荷容量: |
20kN |
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最高試験温度: |
300°C |
| 最高試験圧力: | 10MPa |
| オートクレーブ容量: | 1.8l |
| 高温水供給流量: | 30l/h |
| 水質制御項目: |
溶存酸素、溶存水素 |
沸騰伝熱面腐食試験(左、中央)、電気化学試験(右)装置の外観
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再処理材料腐食験装置(東伸工業(株)製) |
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沸騰伝熱面腐食試験、電気化学試験 |
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| 溶液条件: |
核燃料及びRIを含有する硝酸溶液 |
| 温度: | 室温〜150°C |
| 圧力: | 50torr〜大気圧 |
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Philips社製 PW1700型 |
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| ゴニオメータ半径: | X線焦点-試料 150 mm 試料-受光スリット 140 mm |
| 2θ測定範囲 | -3°〜 +135° |
| X線管球: | 3 kW |
| ターゲット: | Cu |
| 管電圧: | 40 kV |
| 管電流: | 40 mA |
| 検出器: | 封入型比例計数管 |
| 焦点: | 点焦点 |
| モノクロメータ: | グラファイト平板結晶 |
| 入射コリメータ: | φ1.0 |
| 受光スリット: | 0.6 mm |
| モノクロスリット: | 0.8 mm |
本装置は、MA(マイナーアクチノイド)含有窒化物・酸化物・合金の熱物性測定(熱伝導率・比熱容量測定)が実施可能。
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熱拡散率測定装置 アルバック理工(株) 型番:TC-7000GB |
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測定法: |
レーザーフラッシュ法 |
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レーザー発振部: |
Ndガラスレーザー(10 J/pulse) |
| 赤外線検出計測部: | In-Sb赤外線検出器 |
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測定温度範囲: |
最大 1500 °C |
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試料温度測温: |
W-Re熱電対 |
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GB内は通常Arガス雰囲気で、酸素濃度2ppm以下、水分濃度3ppm以下で制御 |
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比熱容量測定装置 SETARAM社 型番:HT-1000 |
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測定温度範囲: |
最大 1000°C |
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測定容器: |
Pt容器(容器内の雰囲気はAr減圧) |
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日立製作所(株)製 HF-2000型 |
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電子銃: |
冷陰極電界放出型電子源 |
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加速電圧: |
200kV |
| 分解能: | 0.1nm(格子像)、0.23nm(粒子像) |
| 倍率: | 2,000〜1,500,000倍 |
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日立製作所(株)製 FB-2000A型 |
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イオン源: |
ガリウム液体金属イオン源 |
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加速電圧: |
〜30kV(常用30kV) |
| 加工速度: |
0.6μm3/s以上(ビーム径0.2μm) |
| 倍率: | 実用〜220,000倍 |
[画像:電界放射型透過型電子顕微鏡(Field Emission-TEM) ]
電界放射型透過型電子顕微鏡(Field Emission-TEM)
[画像:集束イオンビーム加工装置(FIB:Focused Ion Beam) ]
集束イオンビーム加工装置(FIB:Focused Ion Beam)
誘導結合プラズマ (ICP)をイオン源とする質量分析装置(MS)です。溶液試料を霧状にしてイオン源に導入して元素をイオン化し、質量分離後、同位体イオンを測定します。元素によりますが、溶液中のppm(=μg/ml)からppb(=ng/ml)レベルの元素測定ができます。元素の同位体比の測定も可能です。
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Hewlett Packrd社製ICP-MS (HP-4500) |
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| プラズマ電源周波数: |
27.12MHz |
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RF出力: |
最大1600W |
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Agilent社製ICP-MS(7700X) |
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プラズマ電源周波数: |
27.12MHz |
|
RF出力: |
最大1600W |
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コリジョンセル仕様 |
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元素の発光に誘導結合プラズマ(ICP)を用いる発光分光装置(AES)です。溶液試料を霧状にして励起源に導入して元素を励起し、元素の発光スペクトルを分光器で測定します。元素によりますが、溶液中のppm(=μg/ml)レベルの元素測定ができます。
| Shimadzu社製ICP-AES (ICPS-7000) | |
| プラズマ電源周波数: | 40.68MHz |
| RF出力: | 最大1200W |
| 分光器焦点距離: | 750mm |
溶液中の微量無機陰イオン類、アルカリ金属、アンモニウムイオン等の分析ができます。検出下限は、測定対象イオンによりますがが数十ppmレベルです。
| Hitachi社製イオンクロマトグラフ装置(IC-7000) | |
| 伝導度測定範囲: | 0〜500μS/cm |
| ドリフト: | 10μS/cm 30分以内 |
| ノイズレベル: | 0.1μS/cm以下 |
放射性核種、特に低エネルギーのβ核種及びα核種の測定が高計数効率で行えます。
| Packard社製 液体シンチレーション計数装置(Tri-Carb 1600TR) |
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| 計数効率: | 60%以上(H-3) |
| 計数効率: | 90%以上(C-14) |
| Perkin Elmer社製 液体シンチレーション計数装置(Tri-Carb 3110TR/LL) |
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| 計数効率: | 60%以上(H-3) |
| 計数効率: | 90%以上(C-14) |
| 低バックグラウンド仕様 | |
γ線放出核種の測定が行える遮蔽の付いたGe半導体検出器(横型)です。検出器からのパルスを波高分析器によりγ線スペクトルを得ることができます。
| Seiko EG&G製 γ線スペクトロメトリー(ETERNIM) | |
| 分解能: | 1.80keV(at 1332keV) |
| 分解能: | 820eV(at 122keV) |
| ピークコンプトン比: | 52:1以上 |
| 使用室 | 111部屋 |
| フード | 98台 |
| グローブボックス | 20台 |
| 鉛セル | 2基 |
| 使用室 | 9部屋 |
| フード | 8台 |
[画像:JRR-3実験利用棟(第2棟)]
建家外観
[画像:2次イオン質量分析装置]
2次イオン質量分析装置
