ナノテクノロジー国際標準化ワークショップ2020

(注記)本ワークショップは終了しました。

開催趣旨

ナノテクノロジーの発展とともに、「ナノ」に関わる国際標準化はナノテクノロジーの標準化を審議する専門委員会ISO/TC229のみならず、様々な専門委員会(TC)で規格の開発が活発に行われており、日本の関係者も精力的に活動しています。
今回のワークショップでは、ナノテクノロジーと関連のある専門委員会や関連技術の専門家をお迎えし、ナノテクノロジー国際標準化の最新動向についてご紹介します。

開催概要

日時 2020年1月31日(金)13:10〜16:30 (受付開始 12:30)
会場 東京ビッグサイト 会議棟1階 102会議室(nano tech 2020に併催して開催)
定員 100 名(参加費無料、先着順、定員になり次第締切)
主催 国立研究開発法人産業技術総合研究所 ナノテクノロジー標準化国内審議委員会
問い合わせ先 ISO/TC229国内審議委員会事務局
Eメール:nanows2020-entry-ml*aist.go.jp(*を@に変更して送信下さい。)

プログラム

時間
内容
講演者
(敬称略)
所属
13:10〜13:15 挨拶 一村 信吾 ISO/TC229国内審議委員会 委員長
産業技術総合研究所 特別顧問
早稲田大学 リサーチイノベーションセンター 教授
13:15〜13:40 来賓挨拶・講演
-標準化を巡る最近の動向と標準化戦略について-
高田 元樹 経済産業省産業技術環境局 国際標準課 統括基準認証推進官
13:40-14:05 ダイヤモンドライクカーボン膜の
国際標準化の現状と将来像
平塚 傑工 ISO/TC107/JWG4 NP23216 プロジェクトリーダー
ナノテック株式会社 取締役
14:05-14:30 IEC/TC119(プリンテッドエレクトロニクス)の
標準化動向
小笹 健仁 IEC/TC119エキスパート 産業技術総合研究所 電子光技術研究部門
14:30-14:55 アジアナノフォーラム(ANF)の活動の現状
- 標準化、認証への動向を含めて -
金山 敏彦 ANF前議長 産業技術総合研究所 特別顧問
14:55-15:10 休憩
15:10-15:35 SAXS(小角X線散乱法)による粒子径解析の国際標準化
- 国際規格の策定作業と製品開発 -
伊藤 和輝 ISO/TC24/SC4/WG10 シャドウコンビーナ
株式会社リガク
15:35-16:00 ISO/TC202 マイクロビームアナリシスにおける
規格開発の現状と展望
大堀 謙一 ISO/TC202 日本代表 株式会社堀場製作所 開発本部
16:00-16:30 総括質疑
- ナノテクノロジー国際標準化の動きについて
(2019年活動報告) -
竹歳 尚之 ISO/TC229 国内審議委員会 幹事
ISO/TC229 JWG2 セクレタリ
産業技術総合研究所

国立研究開発法人産業技術総合研究所

Copyright © National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)
(Japan Corporate Number 7010005005425). All rights reserved.

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