材料分析法の一覧
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材料分析法の一覧:
A
[編集 ]- Analytical ultracentrifugation - 超遠心分析
- AAS - 原子吸光分光(Atomic absorption spectroscopy)
- AED - オージェ電子回折(Auger electron diffraction)
- AES - オージェ電子分光(Auger electron spectroscopy)
- AFM - 原子間力顕微鏡(Atomic force microscope|Atomic force microscopy)
- AFS - 原子蛍光分光(Atomic fluorescence spectroscopy)
- APFIM - 原子プローブ 電界イオン顕微鏡(Atom probe field ion microscopy)
- APS - 出現電位分光(Appearance potential spectroscopy)
- ARPES - 角度分解光電子分光(Angle resolved photoemission spectroscopy)
- ARUPS - 角度分解紫外光電子分光(Angle resolved ultraviolet photoemission spectroscopy)
- ATR -減衰全反射 (英語版)(Attenuated total reflectance)
B
[編集 ]- BET - BET表面積測定 (BETはBrunauer、Emmett、Tellerに由来)
- BiFC - 二分子蛍光補完 (英語版)(Bimolecular fluorescence complementation)
- BKD - 後方散乱菊池回折(Backscatter Kikuchi diffraction)、EBSDを参照
- BRET - 生物発光共鳴エネルギー移動(Bioluminescence resonance energy transfer)
- BSED - 後方散乱電子回折(Back scattered electron diffraction)、EBSDを参照
C
[編集 ]- CAICISS - 同軸型直衝突イオン散乱分光(Coaxial impact collision ion scattering spectroscopy)
- CARS - コヒーレント反ストークスラマン分光 (英語版)(Coherent anti-Stokes Raman spectroscopy)
- CBED - 収束電子回折(Convergent beam electron diffraction)
- CCM - Charge collection microscopy(Charge collection microscopy)
- CDI - コヒーレント回折イメージング (英語版)(Coherent diffraction imaging)
- CE - キャピラリー電気泳動(Capillary electrophoresis)
- CET - クライオ電子線トモグラフィー(Cryo-electron tomography)
- CL - カソードルミネッセンス(Cathodoluminescence)
- CLSM - 共焦点レーザー走査型顕微鏡(Confocal laser scanning microscopy)
- COSY - COSY(Correlation spectroscopy)
- Cryo-EM - クライオ電子顕微鏡(Cryo-electron microscopy)
- Cryo-SEM - クライオ走査型電子顕微鏡 (英語版)(Cryo-scanning electron microscopy)
- CV - サイクリックボルタンメトリー(Cyclic voltammetry)
D
[編集 ]- DE(T)A - Dielectric thermal analysis
- dHvA - ドハース・ファンアルフェン効果(De Haas–van Alphen effect)
- DIC - 微分干渉顕微鏡(Differential interference contrast microscopy)
- Dielectric spectroscopy - 誘電分光 (英語版)
- DLS - 動的光散乱 (英語版)(Dynamic light scattering)
- DLTS - 深い準位過渡分光(Deep-level transient spectroscopy)
- DMA - 動的機械分析 (英語版)(Dynamic mechanical analysis)
- DPI - 二面偏波式干渉計(Dual polarisation interferometry)
- DRS - 拡散反射分光(Diffuse reflection spectroscopy)
- DSC - 示差走査熱量測定(Differential scanning calorimetry)
- DTA - 示差熱分析(Differential thermal analysis)
- DVS - 動的蒸気収着 (英語版)(Dynamic vapour sorption)
E
[編集 ]- EBIC - 電子線誘起電流 (英語版)(Electron beam induced current) 、IBIC(ion beam induced charge)も参照
- EBS - 弾性(非ラザフォード)後方散乱分光(Elastic (non-Rutherford) backscattering spectrometry)、RBSを参照。
- EBSD - 電子後方散乱回折(Electron backscatter diffraction)
- ECOSY - ECOSY(Exclusive correlation spectroscopy)
- ECT - 電気容量トモグラフィ(Electrical capacitance tomography)
- EDAX - エネルギー分散型X線分析(Energy-dispersive analysis of x-rays)
- EDMR - 電気的検出磁気共鳴 (英語版)(Electrically detected magnetic resonance)、ESRやEPRを参照
- EDS、EDX - エネルギー分散型X線分光(Energy dispersive X-ray spectroscopy)
- EELS - 電子エネルギー損失分光(Electron energy loss spectroscopy)
- EFTEM - エネルギーフィルター透過型電子顕微鏡 (英語版)(Energy filtered transmission electron microscopy)
- EID - 電子誘起脱離(Electron induced desorption)
- EIT、ERT - 電気インピーダンス・トモグラフィ(Electrical impedance tomography)、電気抵抗トモグラフィー (英語版)(Electrical resistivity tomography)
- EL - エレクトロルミネセンス(Electroluminescence)
- Electron crystallography - 電子線結晶構造解析 (英語版)
- ELS - 電気泳動光散乱 (英語版)(Electrophoretic light scattering)
- ENDOR - 電子核二重共鳴 (英語版)(Electron nuclear double resonance)
- EPMA - 電子線マイクロアナライザ(Electron probe microanalysis)
- EPR - 電子常磁性共鳴(Electron paramagnetic resonance)
- ERD、ERDA - 弾性反跳検出 (英語版)(Elastic recoil detection)または弾性反跳検出分析(Elastic recoil detection)
- ESCA - 化学分析のための電子分光(Electron spectroscopy for chemical analysis)*XPSを参照
- ESD - 電子刺激脱離(Electron stimulated desorption)
- ESEM - 環境制御型走査電子顕微鏡(Environmental scanning electron microscopy)
- ESI-MS、ES-MS - エレクトロスプレーイオン化 質量分析法(Electrospray ionization mass spectrometry)、エレクトロスプレー 質量分析法(Electrospray mass spectrometry)
- ESR - 電子スピン共鳴
- ESTM - 電気化学走査型トンネル顕微鏡(Electrochemical scanning tunneling microscopy)
- EXAFS - 広域X線吸収微細構造(Extended X-ray absorption fine structure)
- EXSY - EXSY(Exchange spectroscopy)
F
[編集 ]- FCS - 蛍光相関分光法(Fluorescence correlation spectroscopy)
- FCCS - 蛍光相互相関分光 (英語版)(Fluorescence cross-correlation spectroscopy)
- FEM - 電界放出顕微鏡 (英語版)(Field emission microscopy)
- FIB - 集束イオンビーム(Focused ion beam)
- FIM-AP - 原子プローブ 電界イオン顕微鏡(Field ion microscopy-atom probe)
- Flow birefringence - 流動複屈折 (英語版)
- Fluorescence anisotropy - 蛍光異方性 (英語版)
- FLIM - 蛍光寿命イメージング顕微鏡 (英語版)(Fluorescence Lifetime Imaging Microscopy)
- Fluorescence microscopy - 蛍光顕微鏡
- FOSPM - Feature-oriented scanning probe microscopy
- FRET - 蛍光共鳴エネルギー移動(Fluorescence resonance energy transfer)
- FRS - 前方反跳分光(Forward Recoil Spectrometry)、ERDと同義
- FTICR、FT-MS - フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計(Fourier transform ion cyclotron resonance)、フーリエ変換質量分析(Fourier transform mass spectrometry)
- FTIR - フーリエ変換赤外分光(Fourier transform infrared spectroscopy)
G
[編集 ]- GC-MS - ガスクロマトグラフィー–質量分析法(Gas chromatography-mass spectrometry)
- GD-MS - グロー放電質量分析法(Glow discharge mass spectrometry)
- GD-OES - グロー放電発光分光(Glow discharge optical spectroscopy)
- GISAXS - すれすれ入射小角X線散乱(Grazing incidence small angle X-ray scattering)
- GIXD - すれすれ入射X線回折(Grazing incidence X-ray diffraction)
- GIXR - すれすれ入射X線反射率測定(Grazing incidence X-ray reflectivity)
- GLC - 気液クロマトグラフィー(Gas-liquid chromatography)
H
[編集 ]- HAADF - 高角環状暗視野像(high angle annular dark-field imaging)
- HAS - ヘリウム原子線散乱 (英語版)(Helium atom scattering)
- HPLC - 高速液体クロマトグラフィー(High performance liquid chromatography)
- HREELS - 高分解能電子エネルギー損失分光 (英語版)(High resolution electron energy loss spectroscopy)
- HREM - 高分解能電子顕微鏡(High-resolution electron microscopy)
- HRTEM - 高分解能透過型電子顕微鏡 (英語版)(High-resolution transmission electron microscopy)
- HI-ERDA - 重イオン弾性反跳検出分析(Heavy-ion elastic recoil detection analysis)
- HE-PIXE - 高エネルギー陽子励起X線放出(High-energy proton induced X-ray emission)
I
[編集 ]- IAES - イオン励起オージェ電子分光(Ion induced Auger electron spectroscopy)
- IBA - イオンビーム分析 (英語版)(Ion beam analysis)
- IBIC - イオンビーム誘起電荷顕微鏡(Ion beam induced charge microscopy)
- ICP-AES - 誘導結合プラズマ発光分析(Inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy)
- ICP-MS - 誘導結合プラズマ質量分析(Inductively coupled plasma mass spectrometry)
- Immunofluorescence - 免疫蛍光
- ICR - イオンサイクロトロン共鳴 (英語版)(Ion cyclotron resonance)
- IETS - 非弾性電子トンネル分光 (英語版)(Inelastic electron tunneling spectroscopy)
- IGA - Intelligent gravimetric analysis
- IGF - 不活性ガス融解(Inert gas fusion)
- IIX - イオン励起X線分析(Ion induced X-ray analysis):粒子線励起X線分析を参照
- INS - 非弾性中性子散乱(Inelastic neutron scattering)、イオン中和分光(Ion neutralization spectroscopy)
- IRNDT - 赤外線非破壊検査 (英語版)(Infrared non-destructive testing of materials)
- IRS - 赤外分光法(Infrared spectroscopy)
- ISS - イオン散乱分光(Ion scattering spectroscopy)
- ITC - 等温滴定カロリメトリー(Isothermal titration calorimetry)
- IVEM - 中間電圧電子顕微鏡(Intermediate voltage electron microscopy)
L
[編集 ]- LALLS - 低角レーザー光散乱 (英語版)(Low-angle laser light scattering)
- LC-MS - 液体クロマトグラフィー-質量分析(Liquid chromatography-mass spectrometry)
- LEED - 低速電子線回折(Low-energy electron diffraction)
- LEEM - 低エネルギー電子顕微鏡 (英語版)(Low-energy electron microscopy)
- LEIS - 低エネルギーイオン散乱 (英語版)(Low-energy ion scattering)
- LIBS - レーザー誘起ブレークダウン分光(Laser induced breakdown spectroscopy)
- LOES - Laser optical emission spectroscopy
- LS - 光散乱(Light (Raman) scattering)
M
[編集 ]- MALDI - マトリックス支援レーザー脱離イオン化法(Matrix-assisted laser desorption/ionization)
- MBE - 分子線エピタキシー法(Molecular beam epitaxy)
- MEIS - 中エネルギーイオン散乱(Medium energy ion scattering)
- MFM - 磁気力顕微鏡(Magnetic force microscopy)
- MIT - 磁気誘導断層撮影(Magnetic induction tomography)
- MPM - 多光子蛍光顕微鏡(Multiphoton fluorescence microscopy)
- MRFM - 磁気共鳴力顕微鏡(Magnetic resonance force microscopy)
- MRI - 核磁気共鳴画像法(Magnetic resonance imaging)
- MS - 質量分析法(Mass spectrometry)
- MS/MS - タンデム質量分析法 (英語版)(Tandem mass spectrometry)
- MSGE - Mechanically Stimulated Gas Emission
- Mossbauer spectroscopy - メスバウアー分光(Mossbauer spectroscopy)
- MTA - マイクロ熱分析法 (英語版)(Microthermal analysis)
N
[編集 ]- NAA - 中性子放射化分析(Neutron activation analysis)
- Nanovid microscopy - Nanovid microscopy
- ND - 中性子回折(Neutron diffraction)
- NDP - 中性子深さ方向分析 (英語版)(Neutron depth profiling)
- NEXAFS - 吸収端近傍X線吸収微細構造(Near edge X-ray absorption fine structure)
- NIS - 中性子非弾性散乱(Nuclear inelastic scattering)
- NMR - 核磁気共鳴分光法(Nuclear magnetic resonance spectroscopy)
- NOESY - 核オーバーハウザー効果分光(Nuclear Overhauser effect spectroscopy)
- NRA - 核反応法(Nuclear reaction analysis)
- NSOM - 走査型近接場光顕微鏡(Near-field scanning optical microscopy)
O
[編集 ]- OBIC - 光ビーム誘起電流 (英語版)(Optical beam induced current)
- ODNMR - 光検出磁気共鳴(Optically detected magnetic resonance)、ESRやEPRを参照
- OES - 発光分光(Optical emission spectroscopy)
- Osmometry - 浸透圧測定 (英語版)
P
[編集 ]- PAS - 陽電子消滅分光 (英語版)(Positron annihilation spectroscopy)
- Photoacoustic spectroscopy - 光音響分光(Photoacoustic spectroscopy)
- PAT or PACT - 光音響トモグラフィー(Photoacoustic tomography)または光音響コンピュータトモグラフィー(photoacoustic computed tomography)
- PAX - Photoemission of adsorbed xenon
- PC or PCS - 光電流分光(Photocurrent spectroscopy)
- Phase contrast microscopy - 位相差顕微鏡(Phase contrast microscopy)
- PhD - 光電子回折(Photoelectron diffraction)
- PD - 光脱離(Photodesorption)
- PDEIS - Potentiodynamic electrochemical impedance spectroscopy
- PDS - 光熱偏向分光法(Photothermal deflection spectroscopy)
- PED - 光電子回折(Photoelectron diffraction)
- PEELS - 並列型電子エネルギー損失分光(parallel electron energy loss spectroscopy)
- PEEM - 光電子顕微鏡(Photoemission electron microscopy、photoelectron emission microscopy)
- PES - 光電子分光(Photoelectron spectroscopy)
- PINEM - 光子誘起近接場電子顕微鏡法(photon-induced near-field electron microscopy)
- PIGE - 粒子線励起ガンマ線放出(Particle (or proton) induced gamma-ray spectroscopy)、 核反応法を参照
- PIXE - 粒子線励起X線分析(Particle (or proton) induced X-ray spectroscopy)
- PL - フォトルミネッセンス(Photoluminescence)
- Porosimetry - ポロシメトリー(Porosimetry)
- Powder diffraction - 粉末回折法 (英語版)(Powder diffraction)
- PTMS - 光熱変換顕微分光 (英語版)(Photothermal microspectroscopy)
- PTS - 光熱変換分光法(Photothermal spectroscopy)
Q
[編集 ]R
[編集 ]- Raman - ラマン分光法(Raman spectroscopy)
- RAXRS - 共鳴異常X線散乱 (英語版)(Resonant anomalous X-ray scattering)
- RBS - ラザフォード後方散乱分光(Rutherford backscattering spectrometry)
- REM - 反射電子顕微鏡(Reflection electron microscopy)
- RDS - 反射率差分光 (英語版)(Reflectance Difference Spectroscopy)
- RHEED - 反射高速電子線回折(Reflection high energy electron diffraction)
- RIMS - 共鳴イオン化質量分析 (英語版)(Resonance ionization mass spectrometry)
- RIXS - 共鳴非弾性X線散乱 (英語版)(Resonant inelastic X-ray scattering)
- RR spectroscopy - 共鳴ラマン分光 (英語版)(Resonance Raman spectroscopy)
S
[編集 ]- SAD - 制限視野回折(Selected area diffraction)
- SAED - 制限視野電子回折(Selected area electron diffraction)
- SAM - 走査型オージェ顕微鏡(Scanning Auger microscopy)
- SANS - 中性子小角散乱 (英語版)(Small angle neutron scattering)
- SAXS - X線小角散乱(Small angle X-ray scattering)
- SCANIIR - 粒子衝撃光放射(Surface composition by analysis of neutral species and ion-impact radiation)
- SCEM - 走査型共焦点電子顕微鏡 (英語版)(Scanning confocal electron microscopy)
- SE - 分光エリプソメトリー(Spectroscopic ellipsometry)
- SEC - サイズ排除クロマトグラフィー(Size exclusion chromatography)
- SEIRA - 表面増強赤外吸収分光(Surface enhanced infrared absorption spectroscopy)
- SEM - 走査型電子顕微鏡(Scanning electron microscopy)
- SERS - 表面増強ラマン散乱(Surface enhanced Raman spectroscopy)
- SERRS - 表面増強共鳴ラマン散乱(Surface enhanced resonance Raman spectroscopy)
- SEXAFS - 表面広域X線吸収微細構造 (英語版)(Surface extended X-ray absorption fine structure)
- SICM - 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡 (英語版)(Scanning ion-conductance microscopy)
- SIL - ソリッドイマージョンレンズ(Solid immersion lens)
- SIM - ソリッドイマージョンミラー(Solid immersion mirror)
- SIMS - 二次イオン質量分析法(Secondary ion mass spectrometry)
- SNMS - スパッタ中性粒子質量分析(Sputtered neutral species mass spectrometry)
- SNOM - 走査型近接場光顕微鏡(Scanning near-field optical microscopy)
- SPECT - 単一光子放射断層撮影(Single photon emission computed tomography)
- SPM - 走査型プローブ顕微鏡(Scanning probe microscopy)
- SRM-CE/MS - 選択反応検出-キャピラリー電気泳動 質量分析法(Selected-reaction-monitoring capillary-electrophoresis mass spectrometry)
- SSNMR - 固体核磁気共鳴(Solid-state nuclear magnetic resonance)
- Stark spectroscopy - シュタルク分光
- STED - 誘導放出抑制顕微鏡(Stimulated Emission Depletion microscopy)
- STEM - 走査型透過電子顕微鏡(Scanning transmission electron microscopy)
- STM - 走査型トンネル顕微鏡(Scanning tunneling microscopy)
- STS - 走査型トンネル分光法(Scanning tunneling spectroscopy)
- SXRD - 表面X線回折 (英語版)(Surface X-ray Diffraction)
T
[編集 ]- TAT or TACT - 熱音響トモグラフィー(Thermoacoustic tomography)または熱音響コンピュータトモグラフィー(thermoacoustic computed tomography)、光音響トモグラフィー(PAT)も参照
- TEM - 透過型電子顕微鏡(transmission electron microscopy)
- TGA - 熱重量分析(Thermogravimetric analysis)
- TIKA - Transmitting ion kinetic analysis
- TIMS - 表面電離型質量分析 (英語版)(Thermal ionization mass spectrometry)
- TIRFM - 全反射照明蛍光顕微鏡(Total internal reflection fluorescence microscopy)
- TLS - 熱レンズ分光(Photothermal lens spectroscopy)、光熱分光の一種
- TMA - 熱機械分析 (英語版)(Thermomechanical analysis)
- TOF-MS - 飛行時間型質量分析計(Time-of-flight mass spectrometry)
- Two-photon excitation microscopy - 2光子励起顕微鏡(Two-photon excitation microscopy)
- TXRF - 全反射蛍光X線(Total reflection X-ray fluorescence)
U
[編集 ]- Ultrasound attenuation spectroscopy - 超音波減衰分光 (英語版)
- Ultrasonic testing - 超音波探傷検査(Ultrasonic testing)
- UPS - 紫外光電子分光法(UV-photoelectron spectroscopy)
- USANS - 超小角中性子散乱(Ultra small-angle neutron scattering)
- USAXS - 超小角X線散乱(Ultra small-angle X-ray scattering
- UV-Vis - 紫外可視分光法(Ultraviolet-visible spectroscopy)
V
[編集 ]- VEDIC - Video-enhanced differential interference contrast microscopy
- Voltammetry - ボルタンメトリー
W
[編集 ]- WAXS - 広角X線散乱 (英語版)(Wide angle X-ray scattering)
- WDXまたはWDS - 波長分散型X線分光(Wavelength dispersive X-ray spectroscopy)
X
[編集 ]- XAES - X線励起オージェ電子分光(X-ray induced Auger electron spectroscopy)
- XANES - エックス線吸収端近傍構造 (英語版)(X-ray Absorption Near Edge Structure)
- XAS - X線吸収分光法(X-ray absorption spectroscopy)
- X-CTR - X線結晶トランケーションロッド (英語版)散乱(X-ray crystal truncation rod scattering)
- X-ray crystallography - X線結晶構造解析(X-ray crystallography)
- XDS - X線散漫散乱(X-ray diffuse scattering)
- XPEEM - X線光電子顕微鏡(X-ray photoelectron emission microscopy)
- XPS - X線光電子分光(X-ray photoelectron spectroscopy)
- XRD - X線回折(X-ray diffraction)
- XRES - X線共鳴交換散乱(X-ray resonant exchange scattering)
- XRF - 蛍光X線分析(X-ray fluorescence analysis)
- XRR - X線反射率法 (英語版)(X-ray reflectivity)
- XRS - X線ラマン散乱 (英語版)(X-ray Raman scattering)
- XSW - X線定在波 (英語版)法(X-ray standing wave technique)
参考文献
[編集 ]- Callister, WD (2000). Materials Science and Engineering - An Introduction. London: John Wiley and Sons. ISBN 0-471-32013-7
- Yao, N, ed (2007). Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications. Cambridge, UK: Cambridge University Press. ISBN 978-0-521-83199-4