2008 17th Asian Test Symposium, Hokkaido, Japan 24-27 November 2008
IEEE, c2008
Proceedings of the 17th Asian Test Symposium
ATS
千葉大学 附属図書館 研
549.72000901722
OPAC
"IEEE Catalog Number CFP08067-PRT"-- cover
Includes bibliographical references and index
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