2008 17th Asian Test Symposium, Hokkaido, Japan 24-27 November 2008

書誌事項

2008 17th Asian Test Symposium, Hokkaido, Japan 24-27 November 2008

IEEE, c2008

タイトル別名

Proceedings of the 17th Asian Test Symposium

ATS

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注記

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA90540905
  • ISBN
    • 9781424440030
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Piscataway, N.J.
  • ページ数/冊数
    xxiv, 392 p.
  • 大きさ
    28 cm
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