著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
Asian Test Symposium	2008 17th Asian Test Symposium, Hokkaido, Japan 24-27 November 2008		IEEE	2008			9781424440030	10817735	https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA90540905
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