TY - BOOK
AU - Asian Test Symposium
TI - 2008 17th Asian Test Symposium, Hokkaido, Japan 24-27 November 2008
PB - IEEE
PY - 2008
EP - xxiv, 392 p.
UR - https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA90540905
SN - 9781424440030
ER -
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