2008 IEEE International Test Conference (ITC) : Santa Clara, California, 28-30 October, 2008

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2008 IEEE International Test Conference (ITC) : Santa Clara, California, 28-30 October, 2008

Institute of Electrical and Electronics Engineers, c2008

• Pages 1-534
• Pages 535-1062

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• 愛媛大学 図書館 研

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  千葉大学 附属図書館 研

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IEEE Catalog Number: CEP08ITC-PRT

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