著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
Institute of Electrical and Electronics Engineers and International Test Conference	2008 IEEE International Test Conference (ITC) : Santa Clara, California, 28-30 October, 2008		Institute of Electrical and Electronics Engineers	2008			9781424424023,9781424424023		https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA89307051
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