表面コインシデンス研究グループ

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お知らせ

2005年8月19日
論文リストを更新し、コインシデンス分光装置の紹介を追加しました。

2003年10月29日
CMA製作技術シリコン清浄表面作製技術を追加しました。

メンバー

  • 物質構造科学研究所 PF: 間瀬一彦、垣内拓大
    〒305-0801茨城県つくば市大穂1-1
    TEL: 029-879-6107、FAX: 029-864-2801
    E-mail: mase@post.kek.jp
  • 佐賀県立九州シンクロトロン光研究センター: 小林英一
  • 千葉大院: 上野信雄、奥平幸司
  • 大阪大学産業科学研究所: 田中慎一郎
  • 広大院理: 田中健一郎、関谷徹司
  • 愛媛大学: 長岡伸一
  • 群馬大学: 奥沢 誠、飯島千尋
  • 横浜国立大学: 田中正俊、藤田斉彦、橋本章吾


研究活動の概略
論文リスト
コインシデンス分光装置の紹介
コインシデンス解説記事
シリコン清浄表面作製技術(pdf)
シリコン清浄表面作製技術
CMA製作技術(pdf)

ガイドブック
試料取扱ガイド
取扱処理届一覧
パルスバルブ取扱ガイド
BL-2B1でのSi清浄表面作製手順
Origin5を用いた新しいEICO解析
177ns成分のFFTを用いた除去(Origin)
誤差の解析(エクセルのみ使用)
FFTによって生じる誤差の解析 (Origin)
MCP調整方法
TOFのプロット
BL-2B1コインシデンス測定マニュアル
Originを用いたメッシュ電流の補正
光軸調整
光電子スペクトルプロット
BL-2B1測定チェンバー取り扱いマニュアル
カレイダグラフによる収率プロット


リンク集
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Updated on 2007年09月19日 by 間瀬一彦

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