分析業務
社外からの分析受託試験なども受け付けております。お気軽にご相談ください。
1.原子吸光光度計
メーカー・型式:島津製作所 AA7000・GFA7000A・ASC7000
フレーム測定・フレームレス測定(オートサンプラー機能付き)
2.赤外分光光度計
メーカー・型式:ThermoFisher 赤外顕微FT-IR(Nicolet in10・is10FT-IR)
有機物の組成解析・成分定性・成分定量(無機物も可)
3.示差熱天秤
メーカー・型式:(株)リガク Thermo plus EV02 (TG-DTA)
試料の熱的挙動とTG-DTA曲線の変化(熱分解・燃焼・酸化・還元等)
雰囲気(Air・Ar・N) オートサンプラー(24件)
4.粒度分布計
メーカー・型式:マイクロトラック・ベル Microtrac MT3000II(0.02〜2800μm)
レーザ回折・散乱法により粉体の粒度分布を測定(湿式・乾式)(水・有機溶媒使用可)
5.多検体比表面積/細孔分布測定装置
メーカー・形式:島津製作所 3Flex
ゼオライト・活性炭・MOF・PCP等々、微粒子のマイクロポア細孔分布測定可能
(3サンプル同時測定可能)
6.炭素/硫黄分析装置
メーカー・型式:堀場製作所 C/S ANALYZER―EMIA810
試料中の炭素・硫黄の含有量測定が短時間で出来る。
7.走査電子顕微鏡(X線定量装置付)
メーカー・型式:日本電子(株) JSM-7001F(走査電子顕微鏡) オックスフォード(株) 元素分析装置(EDS)/(WDS)
- 分解能:1.2nm(加速電圧30kv) 2nm(加速電圧1kv)
- ×ばつ1000000
- 画像:二次電子像 / 反射電子像 / UED像(試料表面組成像)
- 元素分析:エネルギー分散型X線分析装置 /(EDS)波長分散型X線分析装置(WDS)
- 検出可能元素:Be〜U
8.蛍光X線装置
メーカー・型式:(株)リガク ZSX-PrimusII(波長分散型)(オートサンプラー付)
- 測定可能元素:B〜U
- 測定方法:検量線法 / FP法
- 試料形状:ガラスビード / 粉末ブリケット
9.X線回折装置
メーカー・型式:(株)リガク RINT UltimaIII
- 測定方法:集中法(半導体検出器)・平行法(SC検出器
- 試料形状:粉末 / 固体 試料中の結晶相同定、リートベルト法による結晶相の簡易定量
10.熱膨張率測定装置
メーカー・型式:ネッチジャパン(株) DIL 402C
- 測定条件:温度範囲 常温〜1600°C
- 雰囲気:大気 / 還元雰囲気(N,Ar)
- 試料ホルダー:アルミナ製 / グラファイト製
- 測定範囲:±2.5mm
- 試料形状:□しろいしかく5〜10mmor〇3〜12mm / L25.00mm±1.0mmor L50.00mm±1.0mm