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主要試験検査設備

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原子吸光分光光度計

ICP発光分光分析装置(ICP-AES)

ICP質量分析装置(ICP-MS)

イオンクロマトグラフ分析装置

ガスクロマトグラフ分析装置(FID,FPD,ECD,TCD)

ガスクロマトグラフ質量分析装置(GCMS, HS-GCMS,PT-GCMS)

高速液体クロマトグラフ(HPLC)

全有機炭素計(TOC)

加熱気化・還元気化全自動水銀分析装置

流れ分析装置(CFA法)

濁度色度測定装置

イオンメータ

電子天秤

電気炉

流速計

大気

排ガス自動分析計(CO,O₂,NO₂)

ガス検知器(CH₄,H₂S,CO,O₂)

騒音・振動

騒音計(普通精密)

振動レベル計

レベルレコーダ

周波数分析計

ハイボリウムサンプラー

作業環境

粉じん計

THC計(VOC計)

放射能分析

ゲルマニウム半導体検出器

NaIシンチレーション検出器

アスベスト分析

位相差・偏光・分散顕微鏡

実体顕微鏡

X線回折分析装置(XRD)

成分分析異物分析

波長分散型蛍光X線分析装置(WDX)

エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX)

元素分析装置(C,H,N)

フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)

電子線マイクロアナライザ(EPMA)

走査型電子顕微鏡(SEM-EDX)

その他分析

凍結粉砕装置

マイクロウェーブ試料分解装置

比表面積測定装置(BET)

微量水分測定装置(カールフィッシャー)

レーザー回折粒度分布測定装置

デジタルマイクロスコープ

生物顕微鏡

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