2001 IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings : 39th annual, Orlando, Florida・April 30-May 3, 2001

書誌事項

2001 IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings : 39th annual, Orlando, Florida・April 30-May 3, 2001

sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society

Institute of Electrical and Electronics Engineers, c2001

  • : soft.
タイトル別名

01CH37167

大学図書館所蔵 件 / 全1件

この図書・雑誌をさがす

注記

Includes bibliographical references

"IEEE Catalog No. 00CH37167" -- T. p.

内容説明・目次

内容説明

Based on a reliability physics symposium, this CD-ROM covers topics including: device and process; device dielectrics; assembly and packaging; channel hot carriers; interconnects; ESD and latch-up; process induced damage; failure analysis; reliability; and optoelectronic emitters and detectors.

「Nielsen BookData」 より

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA52526692
  • ISBN
    • 0780365879
  • LCCN
    82640313
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Piscataway, N.J.
  • ページ数/冊数
    x, 464 p.
  • 大きさ
    28 cm
ページトップへ

AltStyle によって変換されたページ (->オリジナル) /