%A 谷口, 研二 %T シリコン熱酸化膜とその界面 : 基礎物性から超LSIへの応用まで %I リアライズ社 %D 1991 %U https://ci.nii.ac.jp/ncid/BN1064502X
AltStyle によって変換されたページ (->オリジナル) / アドレス: モード: デフォルト 音声ブラウザ ルビ付き 配色反転 文字拡大 モバイル