テキスト ( 視覚 ) : 機器不用 テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える / 光永悠彦編著 ; 西田亜希子著. -- 京都 : ナカニシヤ出版 , 2022.9. -- ix, 239p : 挿図 ; 26cm. -- 「テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方」 (2017年刊) の姉妹編 ; 参考文献: p233-237 ; 事項索引: p238 ; 人名索引: p.239. -- ISBN 9784779516832 ; (BC17143066) ; https://ci.nii.ac.jp/ncid/BC17143066 別タイトル: test ; Item response theory ; テストは何を測るのか : 項目反応理論の考え方 ; テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える. -- 著者標目: 光永, 悠彦 ; 西田, 亜希子 . -- 分類: NDC9 : 371.7 ; NDC9 : 376.8 ; NDC10 : 376.87 ; NDLC : FB35. -- 件名: NDLSH : 教育測定 ; NDLSH : 試験 (教育) ; BSH : 入学試験(大学) ; NDLSH : 入学試験 -- 大学 -- 日本