TY - BOOK
AU - Li, S. Z.
TI - Markov random field modeling in image analysis
ET - 3rd ed
PB - Springer
PY - 2010
T2 - Advances in pattern recognition
EP - xxiii, 357 p.
UR - https://ci.nii.ac.jp/ncid/BC17004070
SN - 9781849967679
ER -
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