著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
International Test Conference and Institute of Electrical and Electronics Engineers	2020 IEEE International Test Conference (ITC 2020) : Washington, DC, USA, 1-6 November 2020		IEEE	2020			9781728191140		https://ci.nii.ac.jp/ncid/BC12311254
</div><div class="naked_ctrl">
<form action="/index.cgi/contrast" method="get" name="gate">
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<option value="default">デフォルト</option>
<option value="speech">音声ブラウザ</option>
<option value="ruby">ルビ付き</option>
<option value="contrast" selected="selected">配色反転</option>
<option value="larger-text">文字拡大</option>
<option value="mobile">モバイル</option>
</select>
<input type="submit" value="表示" />
</p>
</form>
</div>