%A International Test Conference
%A Institute of Electrical and Electronics Engineers
%T 2020 IEEE International Test Conference (ITC 2020) : Washington, DC, USA, 1-6 November 2020
%I IEEE
%D 2020
%U https://ci.nii.ac.jp/ncid/BC12311254
</div><div class="naked_ctrl">
<form action="/index.cgi/contrast" method="get" name="gate">
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<option value="default">デフォルト</option>
<option value="speech">音声ブラウザ</option>
<option value="ruby">ルビ付き</option>
<option value="contrast" selected="selected">配色反転</option>
<option value="larger-text">文字拡大</option>
<option value="mobile">モバイル</option>
</select>
<input type="submit" value="表示" />
</p>
</form>
</div>