テキスト ( 視覚 ) : 機器不用
半導体デバイスの不良・故障解析技術 / 二川清編著 ; 上田修, 山本秀和著. -- 東京 : 日科技連出版社 , 2019.12. -- viii, 218p, 図版 [2] p : 挿図 ; 21cm. -- (信頼性技術叢書). -- 監修: 信頼性技術叢書編集委員会 ; 参考文献: 章末. -- ISBN 9784817196859 ; (BB29632856) ; https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB29632856
別タイトル: 半導体デバイスの不良故障解析技術. -- 著者標目: 二川, 清 ; 上田, 修 ( 工学) ; 山本, 秀和 ; 信頼性技術叢書編集委員会. -- 分類: NDC8 : 549.8 ; NDC9 : 549.8 ; NDC10 : 549.8. -- 件名: BSH : 半導体 ; BSH : 信頼性(工学) ; NDLSH : 半導体 -- 品質管理
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