著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
二川, 清 and 上田, 修 ( 工学) and 山本, 秀和 and 信頼性技術叢書編集委員会	半導体デバイスの不良・故障解析技術		日科技連出版社	2019	信頼性技術叢書		9784817196859		https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB29632856
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