@book{ BB29632856,
 author = "二川, 清 and 上田, 修 ( 工学) and 山本, 秀和 and 信頼性技術叢書編集委員会",
 title = "半導体デバイスの不良・故障解析技術",
 publisher = "日科技連出版社",
 year = "2019",
 series = "信頼性技術叢書",
 number = "",
 URL = "https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB29632856"
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