TY - BOOK
AU - International Test Conference
AU - Institute of Electrical and Electronics Engineers
TI - 2016 IEEE International Test Conference : (ITC 2016) : Fort Worth, Texas, USA, 15-17 November 2016
PB - IEEE
PY - 2016
EP - 490 p.
UR - https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB2513445X
SN - 9781467387743
ER -
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