超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究

• • 谷口, 研二 タニグチ, ケンジ

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• • 谷口, 研二 タニグチ, ケンジ

超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究

研究代表者 谷口研二

(科学研究費補助金(一般研究C)研究成果報告書, ; 平成2年度)

大阪大学工学部, 1991.3

タイトル読み

チョウビショウ MOS ソシ ノ シンライセイ ト テレグラフ ザツオン ハッセイ キコウ ノ ケンキュウ

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  50320052041

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[課題番号]: 01550248

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  科学研究費補助金(一般研究C)研究成果報告書

  [発行者不定] [発行年不定]