TY - BOOK
AU - International Test Conference
AU - Institute of Electrical and Electronics Engineers
TI - 2014 IEEE International Test Conference : (ITC 2014) : Seattle, Washington, USA, 20-23 October 2014
PB - IEEE
PY - 2014
EP - 601 p.
UR - https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB18581549
SN - 9781479947218
ER -
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