TY - BOOK
AU - International Test Conference
AU - Institute of Electrical and Electronics Engineers
TI - 2013 IEEE International Test Conference : (ITC 2013) : Anaheim, California, USA, 6-13 September 2013
PB - IEEE
PY - 2013
EP - xii, 497 p.
UR - https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB15370387
SN - 9781479908608
ER -
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