TY - BOOK
AU - International Test Conference
AU - Institute of Electrical and Electronics Engineers
TI - 2011 IEEE International Test Conference (ITC 2011) : Anaheim, California, USA, 20-22 September 2011
PB - IEEE
PY - 2011
EP - 508 p.
UR - https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB09151458
SN - 9781457701535
ER -
</div><div class="naked_ctrl">
<form action="/index.cgi/contrast" method="get" name="gate">
<p><a href="http://altstyle.alfasado.net">AltStyle</a> によって変換されたページ <a href="https://ci.nii.ac.jp:443/ncid/BB09151458.ris">(-&gt;オリジナル)</a>
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<option value="default">デフォルト</option>
<option value="speech">音声ブラウザ</option>
<option value="ruby">ルビ付き</option>
<option value="contrast" selected="selected">配色反転</option>
<option value="larger-text">文字拡大</option>
<option value="mobile">モバイル</option>
</select>
<input type="submit" value="表示" />
</p>
</form>
</div>