著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
IEEE VLSI Test Symposium	29th VLSI Test Symposium (VTS2011), Dana Point, California, USA, 1-5 May 2011		IEEE	2011			9781612846576		https://ci.nii.ac.jp/ncid/BB06935021
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