著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
IEEE VLSI Test Symposium and IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council	Proceedings : 25th IEEE VLSI Test Symposium : 6-10 May, 2007, Berkeley, California		IEEE Computer Society	2007			9780769528120		https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA82718998
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