著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
Asian Test Symposium and IEEE Computer Society and IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council	Proceedings : 15th Asian Test Symposium : Fukuoka, Japan, November 20-23, 2006		IEEE Computer Society	2006			9780769526287	10817735	https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA81900555
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