著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing and IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council and 清華大学	2005 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing : MTDT 2005 : 3-5 August, 2005, Taipei, Taiwan		IEEE Computer Society	2005			0769523137	10874852	https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA80823517
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