TY - BOOK
AU - IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing
AU - IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council
AU - 清華大学
TI - 2005 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing : MTDT 2005 : 3-5 August, 2005, Taipei, Taiwan
PB - IEEE Computer Society
PY - 2005
EP - xxv, 153 p.
UR - https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA80823517
SN - 0769523137
ER -
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