%A IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing
%A IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council
%A 清華大学
%T 2005 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing : MTDT 2005 : 3-5 August, 2005, Taipei, Taiwan
%I IEEE Computer Society
%D 2005
%U https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA80823517
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