TY - BOOK AU - International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits AU - Tung, Chih-Hang AU - IEEE Reliability/CPMT/ED Singapore Chapter AU - IEEE Electron Devices Society AU - Centre for IC Failure Anlaysis & Reliability (CICFAR) AU - National University of Singapore TI - Proceedings of the 12th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits : IPFA 2005 : [27 June to 1 July 2005, Shangri-La's rasa Sentosa Resort, Singapore] PB - IEEE PY - 2005 EP - 213 p. UR - https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA78343778 SN - 0780393015 ER -
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