著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
International Test Conference and IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council and Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section	Board and system test track		International Test Conference	2003	Proceedings : International Test Conference 2003 / [sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section]		0780381068		https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA65459044
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