著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
International Test Conference and IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council and Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section	Proceedings : International Test Conference 2003		International Test Conference	2003			0780381068	10893539	https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA6540053X
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