著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing and Courtois, B. (Bernard) and Wik, T. (Thomas) and Zorian, Yervant and IEEE Computer Society and IEEE Computer Society. Technical Committee on VLSI and IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council and IEEE Solid-State Circuits Society	Proceedings of the 2002 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing : (MTDT 2002) : 10-12 July, 2002, Isle of Bendor, France		IEEE Computer Society	2002			0769516173,0769516181	10874852	https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA64790086
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