TY - BOOK AU - International Reliability Physics Symposium AU - IEEE Electron Devices Society AU - IEEE Reliability Society TI - 2003 IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings : 41st annual, Dallas, Texas, March 30-Apri 4, 2003 PB - Institute of Electrical and Electronics Engineers PY - 2003 EP - x, 645 p. UR - https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA6271753X SN - 0780376498 ER -
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