TY - BOOK AU - Asian Test Symposium AU - IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council AU - IEICE. Technical Group on Dependable Computing AU - IPS Japan. Special Interest Group on System LSI Design Methodology TI - Proceedings of the 11th Asian Test Symposium (ATS '02), 18-20 November 2002, Guam, USA PB - IEEE Computer Society PY - 2002 EP - xxi, 437 p. UR - https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA61756208 SN - 0769518257 ER -
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