著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
Asian Test Symposium and IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council and IEICE. Technical Group on Dependable Computing and IPS Japan. Special Interest Group on System LSI Design Methodology	Proceedings of the 11th Asian Test Symposium (ATS '02), 18-20 November 2002, Guam, USA		IEEE Computer Society	2002			0769518257	10817735	https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA61756208
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