著者名 書名 版表示 出版者名 出版年 シリーズ名 番号 ISBN ISSN URL Asian Test Symposium and IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council and Tenth Anniversary Committee of Asian Test Symposium Proceedings : 10th anniversary compendium of papers from Asian Test Symposium, 1992-2001 IEEE Computer Society 2001 076951233X,0769512348 https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA54682520