著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing and Zorian, Yervant and Courtois, B. (Bernard) and Wik, Thomas and Cockburn, Bruce and IEEE Computer Society and IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council and IEEE Computer Society. Technical Committee on VLSI and IEEE Solid-State Circuits Society	Proceedings, 2001 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing, August 6-7, 2001, San Jose, California, USA		IEEE Computer Society	2001			0769512429,0769512437		https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA53591736
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