著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
Autotestcon and IEEE Aerospace and Electronic Systems Society and IEEE Instrumentation and Measurement Society and Institute of Electrical and Electronics Engineers. Central Texas Section	1999 IEEE AUTOTESTCON proceedings, IEEE Systems Readiness Technology Conference, August 30-September 2, 1999 : test technology for the new millennium		IEEE Service Center	1999			078035432X,0780354338	10887725	https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA45434437
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