著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
Asian Test Symposium and IEEE Computer Society. Technical Committee on Test Technology	Proceedings : Sixth Asian Test Symposium (ATS '97), November 17-19, 1997, Akita, Japan		IEEE Computer Society Press	1997			0818682094		https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA43673663
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