著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
IEEE International Workshop on IDDQ Testing and Jayasumana, Anura P. and IEEE Computer Society. Technical Committee on Test Technology	Digest of papers, IEEE International Workshop on IDDQ Testing : November 5-6, 1997, Washington, D.C.		IEEE Computer Society Press	1997			0818681233		https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA43487068
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