TY - BOOK AU - IEEE VLSI Test Symposium AU - IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee TI - Proceedings, 17th IEEE VLSI Test Symposium : April 25-29, 1999, Dana Point, California PB - IEEE Computer Society PY - 1999 EP - xxxii, 488 p. UR - https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA41906090 SN - 076950146X ER -
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